RENISHAW XL80高性能雷射干涉儀是機床、三次元座標量床及其它定位裝置
精度校準用的高性能儀器，由於最新電子技術的應用，使其鐳射波長非常穩定，並
保持了低成本高效率的工作流程.

量測速率：205000次量測/秒掃描區域：275mm*250mm分辯率：0.050mm
精度：最高0.030mm體積精度：0.02+0.06mm/m基準距：300mm
景深：250mm部件尺寸範圍：0.1-4m

量測速率：480000次量測/秒掃描區域：275mm*250mm分辯率：0.050mm
精度：最高0.030mm體積精度：0.02+0.06mm/m基準距：300mm
景深：250mm部件尺寸範圍：0.1-4m

雷射跟踪儀座標量測不確定度：全量程範圍：15μm+6μm/m
標準量程範圍
（2.5*5*10m）：10μm+5μm/m最大量測距離：
IFM: 25M（半徑）ADM: 9M（半徑）水准方向：360⁰垂直方向：±45⁰

機床定位和運動誤差檢測科技以亞微米精度進行校正和檢定

特點：體積小，重量輕，提升力大，活動關節靈活可調；探頭間距：0-250mm可調
靈敏度：A型試片、條型試片顯示清晰；提升力：D型磁軛探頭：AC大於5Kg，
DC大於36Kg；應用：交直流，適用於大型鐵磁資料及零部件的局部探傷；235*115*160mm